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  • HITACHI X射线荧光分析仪 EA1400

    HITACHI X射线荧光分析仪 EA1400

    EA1400 采用全新硅漂移探测器（SDD）提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度，可辨别矿渣（硅、钙、铝和镁）、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分，为了加快和简化生产环境中的RoHS检测，允许客户随指令变化更新物质控制标准。

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  • HITACHI 台式X射线荧光光谱仪 LAB-X5000

    HITACHI 台式X射线荧光光谱仪 LAB-X5000

    LAB-X5000作为旗舰版元素分析仪，可实现快速轻松的质量控制。其优势在于其简单和坚固，通过高效的用户界面，操作者只需单次轻触一个按钮，即可轻松获得可重复的结果。大气补偿功能适应各种环境，无需真空，降低分析成本。

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  • HITACHI X射线荧光分析仪 EA1280

    HITACHI X射线荧光分析仪 EA1280

    EA1280搭载硅半导体检测器（无需液氮），大幅缩短检测时间，提高效率。关于各种有害物质检测用的标准物质均由日立自主开发和制造，对于有害物质检测软件2.0版本，带有多样管理功能。

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