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  • HITACHI X射线异物解析设备 EA8000A

    HITACHI X射线异物解析设备 EA8000A

    EA8000A可自动高速检测出妨害锂电子充电电池和燃料电池的20μm级微小金属异物,可对元素类型进行测定。选择检查条件后,开始测量,仪器会自动通过X射线检测出金属异物然后确定元素,是锂电池的制造现场故障解析及检查中不可或缺的存在。

  • ULVAC-PHI 飞行时间型二次离子质谱仪PHI nano TOF II TRIFT 系列

    ULVAC-PHI 飞行时间型二次离子质谱仪PHI nano TOF II TRIFT 系列

    三次聚焦分析仪适用于平面,不平整以及表面形貌复杂的样品,多种溅射离子枪实现三维成像的深度分析,SmartSoft-TOF软件使得样品分析操作更简单容易,并具有双束电荷中和(专利)。

  • ULVAC-PHI 扫描俄歇纳米探针 PHI 710

    ULVAC-PHI 扫描俄歇纳米探针 PHI 710

    PHI 710使用CMA同轴分析器,同时实现高灵敏度和高传输率,即便在低电流高空间分辨率情况下都可轻松对应。拥有CMA所有优点同时,结合获得AVS设计奖的高能量分辨率功能,AES可以进行各种纳米级区域化学态分析。

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