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  • FT160系列

    FT160系列

    FT160 台式 XRF 镀层测厚仪，可对不断微型化的电子部件镀膜厚度进行快测， 安全和便捷的测量。更大尺寸范围的样品，适用于当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。

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  • FT230

    FT230

    FT230作为日立全新退出的镀层测厚设备，在简化和加速零件和组件的测试，从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。FT230 具有 Find My Part™ （查找我的样品）智能识别，全新的设计大大提高了操作使用效率。

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  • 日本平沼 测汞仪 HG-400/450 系列

    日本平沼 测汞仪 HG-400/450 系列

    通过更改与起泡器、反应容器和流路相关的设置，可以处理四种类型的测试溶液体积，配备气泵总运行时间，汞吸收柱总使用时间等丰富的维护支持。

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